目录

采样保持工作原理

概念

时域响应-采保信号

采样网络的KT/C噪声

采样电容大小的选取

采样抖动(jitter)

jitter对SNR的影响

法一

法二

采样开关的种类

单MOS管

实践：Nmos导通电阻

传输门

栅压自举开关

采样技术

上极板采样

下极板采样

采样保持的电荷转移

跟踪阶段

采样时刻

保持阶段

输出

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采样保持工作原理

概念

采样保持电路作用：时域离散化

跟踪阶段：开关闭合，Vout=Vin。

保持阶段：开关断开，保持电压。

时域响应-采保信号

输入信号在采样阶段不变。

ADC精度和建立时间之间的关系：

采样网络的KT/C噪声

电容不会产生噪声，电阻会产生噪声。

一阶RC网络的噪声与电阻无关，只与电容有关。

R越大，电阻噪声谱密度4KTR越大，但是一阶RC的3dB带宽1/RC也更低。所以总的积分噪声与R无关。反之亦然。

采样电容大小的选取

如何选择采样电容的大小？

ADC设计中，一般遵循以下规则：噪声不能大于量化噪声。

根据ADC位数选择采样电容值的大小：

电容每增加四倍，根号下KT/C减小一半。

采样抖动(jitter)

时钟抖动：不存在理想的采样时钟，真是的clock的上升沿和下降沿有一定范围的不确定性，

ADC的噪声源：量化噪声、热噪声、采样时钟jitter带来的采样误差。

jitter对SNR的影响

法一

仅仅考虑jitter的影响，对输入信号求导再乘时间就是采样电压误差，对其求功率就是误差功率。

SNR=信号功率/噪声功率

jitter和SNR的关系：

在jitter一定的情况下，信号频率越高，SNR越低

在信号频率一定的情况下，jitter越大，SNR越低。

理想ADC信噪比SNR与位数的关系：

法二

使采样jitter引入的误差小于1/2 LSB。该法较为严格

对输入信号求导，考虑极端情况，得到电压变化率最大的时候的值，使该值小于LSB/2。

采样开关的种类

单MOS管

全摆幅范围内线性度较差

实践：Nmos导通电阻

可以看到输入为0的时候，即不考虑衬底偏置效应的时候，导通电阻为940.397

对VIN做参数扫描，可以看到考虑衬底偏置效应后的导通电阻的变化情况在VIN=1.1时，衬底偏置效应最大为1.4kΩ，Vth变大，导致导通电阻变大。

打印静态工作点可以看到cgg（gate电容），gate电容为2.14f，电容太小是因为MOS管尺寸太小。

增大MOS管尺寸，m=10，finger=100，得到cgg，用cgg/面积，就得到

传输门

PMOS:NMOS宽长比=4:1时，才能保持马鞍形阻抗。但是，在先进低电压工艺下，NMOS和PMOS在中间电平附近的时候不导通，导致导通阻抗很大。

栅压自举开关

目的：将MOS管的Vgs保持为一个恒定值。

理论原理

电路实现

栅极自举开关，需要将M4和M5管的衬底与B点短接(接电路最高电位，该电路最高电位是B点而不是VDD)，保证B点能够到大2VDD。

M8连接输入和输出，其衬偏效应会影响导通阻抗的线性度，因此需要改进

可以用PMOS开关

也可以使NMOS衬底在source和GND之间切换

首先确定M7和M8的寄生电容，CB取寄生电容的几十倍。

采样技术

上极板采样

非理想特性：开关断开瞬间的沟道电荷、时钟馈通、上极板技术采样精度限制在10位左右。

下极板采样

SW3开关的左端也可以接共模信号

采样保持的电荷转移

跟踪阶段

采样时刻

保持阶段

输出