该文档为test_core spec,仅为参考,如果在进行本系列虚拟项目的学习与实践,请自行完成本部分内容。
1.Introduction
用于对 SRAM 实现自动的可配置地址线、数据线故障检测。
1.CPU 控制
CPU 向芯片的工作模式选择寄存器写入0xXXXX_XX55后,芯片进入扫描工作模式, 并启动一次自动扫描测试(包括数据线故障扫描测试和地址线故障扫描测试两个部分) 。在自动扫描测试过程中,CPU可随时读取测试状态寄存器来判断当前的测试状态与结果。当 一次自动扫描测试结束后,CPU可决定是否继续进行扫描测试:若需要再次扫描,CPU再次向工作模式选择寄存器写入 0xXXXX_XX55来启动下一次扫描测试;在扫描测试过程中或扫描测试结束后,若不再扫描,CPU向工作模式选择寄存器写入 0xXXXXX_XXAA来结 束扫描,进入正常工作模式。若CPU无动作,则扫描结束后,进入扫描IDLE 状态,直到CPU 向工作模式选择寄存器写入 0xXXXX_XXAA ,才进入正常工作模式。
扫描工作状态寄存器 (TEST STATUS) 中的test_status_a[1:0]和 test_status_b[1:0]说明 了当前A端口和B端口的工作状态:(1) 扫描未启动或强行结束、不忙 (2b00) ;(2) 扫描未结束、正忙 (2b01) &#x