Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式从其它设计中截取过孔模型和仿真分析操作指导 Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式支持从其它设计中截取过孔模型用于仿真分析,同样以差分模板为例 具体操作如下 双击打开System Explorer软件 界面打开如下